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“中國芯”任重道遠(yuǎn)，崛起之路你我同行
來源: | 作者:sztaiqin | 發(fā)布時(shí)間: 2021-03-26 | 2558 次瀏覽 | 分享到:
IT-M3100系列擁有擴(kuò)展輸出電流、電壓的功能?？梢愿鶕?jù)用戶不同要求的電流、電壓值，采用并聯(lián)、串聯(lián)的方式來實(shí)現(xiàn)。并聯(lián)運(yùn)行時(shí)，最多可并聯(lián)4臺。串聯(lián)運(yùn)行時(shí)，可連接2臺。透過串并聯(lián)功能可支持多種不同功率的待測物測試，并且使用戶的使用更為彈性，設(shè)備的使用率大幅提高。
半導(dǎo)體對于經(jīng)濟(jì)競爭力和國家安全至關(guān)重要。半導(dǎo)體技術(shù)的創(chuàng)新是推動全球經(jīng)濟(jì)數(shù)字化，人工智能（AI）和5G通信的基礎(chǔ)。作為世界第一制造業(yè)大國、世界第一貿(mào)易大國、世界第一大經(jīng)濟(jì)體，中國在半導(dǎo)體芯片的研究和制造領(lǐng)域還有很大的發(fā)展空間。

半導(dǎo)體測試是生產(chǎn)流程中一個(gè)非常重要的環(huán)節(jié)，回顧ITECH服務(wù)于半導(dǎo)體測試的這些年，為用戶解決測試苦難，與行業(yè)共同進(jìn)步。



電學(xué)測試

   靜態(tài)電流測試（SIDD），在一定電壓下讓IC處于無負(fù)載、無振蕩狀態(tài)，將電流表的一端接電源的正極，另一端接IC的VDD腳，電流表的讀數(shù)即為IC的靜態(tài)電流。

IT6400雙極性直流電源，解析度高達(dá)1nA，既可以作為供電電源，又可以測試靜態(tài)電流。



老化測試

   半導(dǎo)體的老化測試過程基本上模擬運(yùn)行了芯片整個(gè)壽命，可以用來作為器件可靠性的檢測或作為生產(chǎn)窗口來發(fā)現(xiàn)器件的早期故障。傳統(tǒng)的方法是采用電阻進(jìn)行能耗放電，這一方面會消耗大量的電能，另一方面會大大增加輸配電設(shè)備的容量，同時(shí)釋放的熱量會增加空調(diào)的負(fù)擔(dān)。通常而言，負(fù)載具有負(fù)效率特性、影響了工作環(huán)境質(zhì)量和電力開銷。其中最大的問題就是電量的浪費(fèi)。比如，一個(gè)典型的100路800W的老化測試系統(tǒng)就要消耗超過80KW才能夠提供測試功能。

   IT-M3300系列小功率回饋式直流電子負(fù)載很好的填補(bǔ)了這一產(chǎn)品空白，既能模擬各種負(fù)載特性，又能將電能無污染的回饋電網(wǎng)，?U的體積內(nèi)可提供高達(dá)800W的功率吸收。



特性測試

   IT-M3200高精度直流電源的電流最大可達(dá)10A，分辨率可達(dá)10nA，可以滿足用戶更多IC測試需求。另外， IT9100系列功率分析儀可代替電流表，來完成測試。